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2)保护膜分为硬保护膜和软保护膜。硬保护膜用于表面粗糙度低的工件表面,软保护膜用于表面粗糙度高或有一定曲率的表面。 1)斜探头可分为纵波斜探头、横波斜探头和表面波斜探头。其中最常用的是横波斜探头。
2)横波斜探头主要用于焊缝检测和某些特殊部件的检测。
3)横波斜探头内部有透声斜楔。它的主要作用是实现波型转换,也就是将晶片产生的纵波转换为横波。
4)探头入射点0到探头前端的距离称为探头的前沿。为利于焊缝检测,横波斜探头的前沿越小越好,因此定做探头时,必须注意这一点。 3.双晶探头(分割探头)(见图3)
双晶探头
1)双晶探头可分为双晶纵波探头和双晶横波探头。
2)双晶探头主要用于近表面缺陷的检测。
3)双晶探头杂波少、盲区小、近场区长度小、检测灵敏度高。
4)双晶探头的检测范围可调。双晶探头检测时,对位于菱形abcd内的缺陷灵敏度高,可通过改变入射角α的大小来调整。α增大,菱形abcd向表面移动即焦点F向表面移动;菱形 abcd 向内部移动,即焦点F向内部移动。
双晶探头上标有检测深度。当选择探头时,最好使检测部位位于标注的检测深度附近。
4.聚焦探头
1)聚焦探头按焦点形状分为点聚焦探头和线聚焦探头。点聚焦探头的理想焦点为一点,其声透镜为球面。线聚焦探头的理想焦点为一条线,其声透镜为柱面。
2)聚焦探头按耦合情况分为水浸聚焦探头(见图4)和接触聚焦探头。水浸聚焦探头以水为耦合介质,不与工件直接接触。接触聚焦探头通过薄层耦合介质与工件接触。接触聚焦探头的聚焦方式不同,分为透镜式聚焦、反射式聚焦和曲面晶片聚焦。点聚焦探头用于缺陷测高时的准确度较高。
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